An Approach to mitigate Single Event Latch Up and Soft Errors: Single Event Effects in Memories and Different Mitigation Strategies for Single Event Effects

49.00 EUR

Ein praxisorientiertes Werk über die Vermeidung von Single Event Latch Up und Soft Errors in Speicherchips, das Ursachen erläutert, Fehlerarten klassifiziert und innovative Schutzmaßnahmen wie adaptive Redundanz, ECC‑Optimierung und dynamische Schaltanpassungen vorstellt.

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