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Boron-oxygen-related defects in crystalline silicon: Formation, recovery kinetics, and impact of compensation
Boron-oxygen-related defects in crystalline silicon: Formation, recovery kinetics, and impact of compensation
69.90 EUR
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Boron-oxygen-related defects in crystalline silicon, Fachbücher
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69.90 EUR
30-05-2026 06:09:50
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