Electrical Characterization of Silicon-on-Insulator Materials and Devices
Ein praxisorientiertes Buch, das die Messmethoden zur Analyse von Leitfähigkeit, Kapazität und Rauschverhalten in SOI‑Materialien detailliert erklärt und experimentelle Techniken für Ingenieure und Forscher präsentiert.
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Electrical Characterization of Silicon-on-Insulator Materials and Devices (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
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11-06-2026 02:43:13
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10-06-2026 10:32:27
