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Fiabilité des micro-interrupteurs en technologie MEMS: Étude des mécanismes de défaillance du contact électrique (Omn.Univ.Europ.)
Fiabilité des micro-interrupteurs en technologie MEMS: Étude des mécanismes de défaillance du contact électrique (Omn.Univ.Europ.)
79.00 EUR
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79.00 EUR
04-10-2026 12:32:35
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