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Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

44.40 EUR

Ein praxisnaher Leitfaden zur Atomkraftmikroskopie: erklärt die Grundlagen von Messprinzipien, Sensoren und Kalibrierung aus der Sicht eines Technikers und verknüpft sie mit konkreten Anwendungsbeispielen in der Nanoforschung.

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