Gares, Mohamed: La fiabilité des composants RF de puissance | DealShopping Deutschland

Gares, Mohamed: La fiabilité des composants RF de puissance

79.00 EUR

Ein wissenschaftlicher Leitfaden zur Haltbarkeit von RF‑LDMOS‑Transistoren im Pulsmodus, der Ursachen für Leistungsverluste aufzeigt und konkrete Maßnahmen zur Steigerung der Zuverlässigkeit in Hochfrequenzsystemen vorschlägt.

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