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Gares, Mohamed: La fiabilité des composants RF de puissance

79.00 EUR

Ein wissenschaftlicher Leitfaden zur Haltbarkeit von RF‑LDMOS‑Transistoren im Pulsmodus, der Ursachen für Leistungsverluste aufzeigt und konkrete Maßnahmen zur Steigerung der Zuverlässigkeit in Hochfrequenzsystemen vorschlägt.

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La fiabilité des composants RF de puissance, Fachbücher

Galaxus.de
79.00 EUR
27-05-2026 07:18:37

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