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Gares, Mohamed: La fiabilité des composants RF de puissance

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Ein wissenschaftlicher Leitfaden zur Haltbarkeit von RF‑LDMOS‑Transistoren im Pulsmodus, der Ursachen für Leistungsverluste aufzeigt und konkrete Maßnahmen zur Steigerung der Zuverlässigkeit in Hochfrequenzsystemen vorschlägt.

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