Howe, James: Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

128.39 EUR

Ein tiefgehendes Fachwerk, das die Grundlagen der Transmissionselektronenmikroskopie sowie deren Anwendung in der Diffractionstechnik beleuchtet und dabei praxisorientierte Fallstudien aus den Materialwissenschaften präsentiert.

Teilen: