Howe, James: Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
128.39 EUR
Ein tiefgehendes Fachwerk, das die Grundlagen der Transmissionselektronenmikroskopie sowie deren Anwendung in der Diffractionstechnik beleuchtet und dabei praxisorientierte Fallstudien aus den Materialwissenschaften präsentiert.