Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
Ein umfassendes Handbuch zur Infrarot‑Ellipsometrie in Halbleiterschichten, das die Wechselwirkung von Licht mit Phononen, Plasmons und Polaritonen erklärt und praxisnahe Messstrategien für Forschung und Entwicklung bietet.
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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures, Fachbücher von Mathias Schubert
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03-08-2026 08:39:18
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07-08-2026 09:26:05
