Optical Testing of Semiconductor Devices under High Energy Pulses: Advanced Optical Interferometric Methods for Nanosecond Mapping of Semiconductor Devices under High Energy Pulses
69.90 EUR
Ein praxisnahes Handbuch, das fortschrittliche Interferometrie nutzt, um Halbleiter bei hochenergetischen Impulsen in Nanosekunden zu untersuchen und damit neue Testmethoden für die Mikroelektronik eröffnet.
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Optical Testing of Semiconductor Devices under High Energy Pulses, Fachbücher
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15-05-2026 03:21:43
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