Orloff, Jon: High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications | DealShopping Deutschland

Orloff, Jon: High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications

235.39 EUR

Ein umfassendes Lehrbuch, das die physikalischen Grundlagen von Flüssigmetall-Ionquellen und Ionenoptiken erläutert und deren Einsatz in hochauflösenden FIB-Technologien praxisnah beschreibt.

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