Quantitative TEM Study of Nitride Semiconductors: Quantitative transmission electron microscopy study of III-nitride semiconductor nanostructures
71.90 EUR
Ein Fachbuch, das die hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie von III‑Nitride-Semikonduktornanostrukturen beleuchtet und quantitative Einblicke in Struktur, Zusammensetzung sowie Defekte liefert.