Quantitative TEM Study of Nitride Semiconductors: Quantitative transmission electron microscopy study of III-nitride semiconductor nanostructures

Ein Fachbuch, das die hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie von III‑Nitride-Semikonduktornanostrukturen beleuchtet und quantitative Einblicke in Struktur, Zusammensetzung sowie Defekte liefert.

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