Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications (Springer Series in Advanced Microelectronics, Band 47)
Dieses Buch untersucht die Ausfallsicherheit von Hochmobilitäts‑SiGe‑Kanals-MOSFETs, erläutert deren Einfluss auf kommende CMOS‑Technologien und liefert praxisnahe Leitlinien für Halbleiteringenieure.
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Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications (Springer Series in Advanced Microelectronics, Band 47)
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14-05-2026 08:35:57
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