Name: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Brand: Springer, Berlin; Springer New York; Springer
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

117.69 EUR

Ein praxisorientiertes Lehrbuch, das die Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie mit fortgeschrittener Röntgenanalyse verknüpft und Techniken zur präzisen Materialcharakterisierung vermittelt.