Strategies to Reduce Power during VLSI Circuit Testing: Reduction of Dynamic and Leakage Power during Testing of Digital VLSI Circuits
Ein praxisnahes Buch, das neue Techniken zur Senkung von dynamischer und Leckageleistung in VLSI-Testschaltungen erläutert, mit anschaulichen Beispielen aus der Praxis und Schritt‑für‑Schritt‑Anleitungen.
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Strategies to Reduce Power during VLSI Circuit Testing: Reduction of Dynamic and Leakage Power during Testing of Digital VLSI Circuits
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13-08-2026 07:47:55
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Strategies to Reduce Power during VLSI Circuit Testing, Fachbücher
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29-07-2026 01:26:07
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