Surface Insulation Resistance Degradation & Electrochemical Migration
59.00 EUR
Ein kompakter Leitfaden, der die Anfälligkeit von bleifreien und eutektischen Zinn-Blei-Lötverbindungen gegen elektrochemische Migration auf Leiterplatten untersucht und praxisnahe Schutzstrategien erläutert.
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Surface Insulation Resistance Degradation & Electrochemical Migration, Fachbücher von Sheng Zhan
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25-04-2026 23:28:47
