THE RELIABILITY OF STRAINED SI MOSFETS ON VARIED TECHNOLOGY PLATFORMS: Reliability of Advanced Si Technology
68.00 EUR
Ein umfassendes Handbuch, das die Lebensdauer gestreckter Si‑MOSFETs auf unterschiedlichen Fertigungstechnologien untersucht und praxisnahe Optimierungsmethoden für langlebige Halbleiterdesigns liefert.