Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations (Frontiers in Electronic Testing, Band 39)
Untersucht, wie Prozessabweichungen die Zeitleistung nanometer‑großer digitaler Schaltungen beeinflussen, und bietet theoretische Modelle sowie praktische Optimierungsansätze für aktuelle Mikroprozessoren.
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Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations (Frontiers in Electronic Testing, Band 39)
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Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
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Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations, Fachbücher von Victor Champac, Jose Garcia Gervacio
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