Walkosz, Weronika: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si¿N¿ Interfaces
Dieses Buch beleuchtet die atomistische Struktur von Siliziumnitrid‑Grenzflächen, verbindet hochauflösende Mikroskopie mit DFT‑Simulationen und eröffnet neue Ansätze zur Optimierung elektronischer Bauelemente.
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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si N Interfaces, Fachbücher von Weronika Walkosz
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29-07-2026 01:29:37
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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
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03-08-2026 01:01:57
