Walkosz, Weronika: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si¿N¿ Interfaces
106.99 EUR
Dieses Buch beleuchtet die atomistische Struktur von Siliziumnitrid‑Grenzflächen, verbindet hochauflösende Mikroskopie mit DFT‑Simulationen und eröffnet neue Ansätze zur Optimierung elektronischer Bauelemente.
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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
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22-04-2026 09:07:28
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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si N Interfaces, Fachbücher von Weronika Walkosz
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21-04-2026 19:41:55
