Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems
Aprende a integrar pruebas HALT y HASS desde el diseño inicial, identificando modos de falla críticos y aplicando análisis de riesgo para optimizar la fiabilidad de circuitos electrónicos en condiciones extremas.
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| Marca | WILEY |
| ASIN | 1118700236 |
| EAN | 9781118700235 |
| ISBN | 9781118700235 |
| Colección | QUALITY AND RELIABILITY ENGINEERING SERIES |
| Edición | 1ª Mayo de 2016 |
| Editorial | JOHN WILEY & SONS LTD. |
| Idiomas | INGLES |
| ISBN | 9781118700235 |
| Páginas | 296 |
