From Digital Traces to Algorithmic Projections
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| Marca | Elsevier Science & Technology |
| ASIN | 178548270X |
| EAN | 9781785482700 |
| ISBN | 9781785482700 |
| Edición | Septiembre de 2018 |
| Editorial | ELSEVIER SCIENCE PUB.B.U. |
| Idiomas | Inglés |
| ISBN | 9781785482700 |
| Páginas | 184 |
