Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact
Descubre las causas y efectos de las impurezas metálicas en semiconductores de silicio y germanio, con métodos avanzados de análisis y soluciones prácticas para mejorar la fiabilidad y rendimiento de dispositivos electrónicos.
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| Marca | Cor Claeys |
| MPN | 33114688 |
| ASIN | 3319939246 |
| EAN | 9783319939247 |
| ISBN | 9783319939247 |
| Colección | SPRINGER SERIES IN MATERIALS SCIENCE |
| Edición | Agosto de 2018 |
| Editorial | SPRINGER NATURE |
| Idiomas | INGLES |
| ISBN | 9783319939247 |
| Páginas | 435 |
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