Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy: Probing the traps in field-effect transistors
Descubre cómo la espectroscopía de recolección de carga excitada por luz revela los defectos en transistores de efecto campo, ofreciendo un enfoque práctico para investigadores y estudiantes que buscan comprender el comportamiento de las trampas electrónicas.
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| Marca | Brand: Springer |
| MPN | 61 black & white illustrations, 2 black |
| ASIN | 9400763913 |
| EAN | 9789400763913 |
| ISBN | 9789400763913 |
| Colección | SPRINGERBRIEFS IN PHYSICS |
| Edición | 20ª Mayo de 2013 |
| Editorial | SPRINGER NATURE |
| Idiomas | Inglés |
| ISBN | 9789400763913 |
| Páginas | 125 |
