Single Event Upsets in Sub-65nm CMOS technologies: Monte-Carlo simulations and contribution to understanding of physical mechanisms

68.00 EUR

Entdecke, wie einzelne Teilchenstöße in CMOS-Chips unter 65 nm zu Fehlern führen – anhand von Monte‑Carlo-Simulationen und einer klaren Analyse der zugrunde liegenden physikalischen Prozesse.

Teilen: