Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures
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Ein praxisnahes Buch, das die hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie nutzt, um Halbleiternanostrukturen zu untersuchen; es erläutert Bildgebungstechniken, Materialzusammensetzung und Verspannungsanalysen aus interdisziplinärer Sicht.