Brauchen Sie Hilfe?
DE
US
CA
UK
ES
FR
DE
IT
Kategorien
Baby & Kleinkind
Bekleidung & Accessoires
Bürobedarf
Elektronik
Fahrzeuge & Teile
Für Erwachsene
Gesundheit & Schönheit
Heim & Garten
Heimwerkerbedarf
Kameras & Optik
Kunst & Unterhaltung
Medien
Möbel
Nahrungsmittel, Getränke & Tabak
Software
Spielzeuge & Spiele
Sportartikel
Taschen & Gepäck
Tiere & Tierbedarf
Wirtschaft & Industrie
Information
Über uns
Geschäftsbedingungen
Datenschutz-Bestimmungen
Blog
Kontakt
Home
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si3N4 Interfaces
85.59 EUR
Teilen:
Angebote
Gesponsert
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
SpringerLink DE
85.59 EUR
22-04-2026 09:06:55
Ähnliche Produkte
Walkosz, Weronika: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si¿N¿ Interfaces
106.99 EUR
Walkosz, Weronika: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si¿N¿ Interfaces
106.99 EUR
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination
213.99 EUR
Controllable Synthesis and Atomic Scale Regulation of Noble Metal Catalysts
181.89 EUR
Minerals and Reactions at the Atomic Scale
44.95 EUR
Atomic-Scale Modeling of Nanosystems and Nanostructured Materials
53.49 EUR
Transition Metals and Silicon. Magnetic Properties of Thin Films Impurities and Heusler Alloys on the Atomic Scale
88.00 EUR
Atomic-Scale Insights into Emergent Photovoltaic Absorbers
106.99 EUR